Hafif, kompakt ve pille çalışabilen LS150/160 sadece 850 g ağırlığındadır. (piller dahil değil) Bu ergonomik cihazlar ayrıca standart olarak sert bir kılıf içermektedir ki bu da taşımaya ve uzun periyotlarla çalışılmasına imkan tanır.
- SLR (tek mercek yansıtmalı) optik sistem
LS-150/160 tek mercek yansıtmalı tasarımı sayesinde, kadrajda gösterilen ve gerçek ölçüm alanı arasında hiçbir fark bulunmamasını garanti eder. Kullanımı kolay SLR optik sistemi, doğruluğu garanti altına alan, ölçüm alanı dışındaki aydınlatmaların etkilerini elimine eden yansıtmaz bir sistem olarak tasarlanmıştır.
- Küçük hedef alanları için nokta ölçümleri
LS-150’nin 1° geliş açısı, 14.4 mm kadar küçük çaplı alanları ölçebilir (1,014mm mesafeden) ; opsiyonel yakın çekim merceği ile bu ölçüm alanı çapı 1.3mm’ye kadar azaltılabilir ( 205 mm mesafeden)
LS-160’ın 1/3° geliş açısı, 0.4 mm çaplı küçük alanları ölçebilir (eklenmiş yakın çekim merceği 110 ile) - Arka aydınlatmalı geniş LCD ekran
Ölçüm verileri; kullanıcı operasyonun farklı modlarını destekler ve hem kadrajda hem de dış bir ekranda görüntülünebilir. - 1000 ölçüm için veri belleği
- USB 2.0 bağlantısı
Ölçüm verilerini göndermek ve kontrol sinyallerini almak için USB 2.0 ile bilgisayar bağlantısı Cihaz ayrıca USB kablosu ile de çalıştırılabilir, ve bu özellik ölçüm donanımında kullanım için veya bir bilgisayar/tablet ile çalışırken idealdir Veri-yönetim yazılımı CS-S20w standart bir aksesuar olarak dahildir.
- 10 Kalibrasyon kanalı, kullanıcı referanslı ışık kaynağına kalibrasyon için uygundur.
LS-150 kullanıcı referanslı ışık kaynağına kalibre edilebilir, bu da hataları daha fazla azaltmada ve çok cihaz kullanımında cihazlar arası uyumu artırmada kullanılabilir.
- Parıltı, parıltı farkı, oran, uç ve dip nokta ölçümü
Tekil uygulamalar baz alınarak, ölçüm değerleri anlık olarak parıltı, uç/dip nokta parlaklı ve parlaklık oranı değerlerine ayarlanabilir.
Kesin değerlerin ölçümünün yanı sıra, cihaz ayrıca belirli bir standarda (hedef) bağlı değerleri de görüntüleyebilir. Bu sayede, geniş yüzeylerdeki veya benzer nesnelerdeki parıltı ve renk farklılıkları kolayca saptanabilir.