System oświetlenia/obserwacji | Pomiar odbicia | di: 8º, de: 8º (rozproszone oświetlenie, kąt obserwacji 8°) |
SCI (składowa zwierciadlana włączona)/SCE (składowa zwierciadlana wyłączona) z możliwością przełączania, włączony pomiar współbieżny |
Zgodny z normami CIE nr 15(2004), ISO 7724/1, ASTM E 1164, DIN 5033 Teil 7 i JIS Z 8722 warunek c. |
Pomiar transmisji | di: 0º, de: 0º (rozproszone oświetlenie, kąt obserwacji 0°) |
Zgodność z normami CIE nr 15(2004), ASTM E 1164, DIN 5033 Teil 7 i JIS Z 8722 warunek g. |
Rozmiar kuli całkującej | Ø152 mm/6 cali |
Detektor | 38-elementowy układ fotodiod krzemowych |
Urządzenie do separacji widmowej | Siatka dyfrakcyjna |
Zakres pomiaru długości fali | 360 - 740 nm |
Skok długości fali | 10 nm |
Połowa szerokości pasma | Średnio ok.14 nm |
Zakres pomiarowy | 0 do 200%; Rozdzielczość: 0.001% |
Źródło światła | Pulsacyjna ksenonowa lampa łukowa |
Measurement/illumination area | Reflektancja | Zmieniane pomiędzy SAV, MAV, LMAV i LAV |
SAV : 3x5 mm pomiar/ 5x7 mm oświetlenie |
MAV : ø8 mm pomiar/ ø11 mm oświetlenie |
LMAV : ø16 mm pomiar/ ø20 mm oświetlenie |
LAV : ø25.4 mm pomiar/ ø28 mm oświetlenie |
Transmisja | Ok. Ø20 mm / ø25 mm |
Powtarzalność | Biały | Wartość koloru: Odchylenie standardowe w granicach ΔE*ab 0,005 |
Odbicie spektralne: Odchylenie standardowe w granicach 0,05% |
(Gdy biała płytka kalibracyjna jest mierzona 30 razy w odstępach 10-sekundowych po kalibracji bieli) |
Czarny | Wartość koloru: Odchylenie standardowe w granicach ΔE*ab 0,02 |
Odbicie spektralne: Odchylenie standardowe w granicach 0,02% |
(Gdy płytka BCRA Black (współczynnik odbicia: 1%) jest mierzona 30 razy w odstępach 10-sekundowych po kalibracji bieli) |
Zgodność między urządzeniami | W zakresie ΔE*ab 0,08 |
Na podstawie średniej dla 12 kolorowych płytek BCRA Series II; LAV/SCI. W porównaniu do wartości zmierzonych za pomocą urządzenia wzorcowego w warunkach standardów pomiarowych Konica Minolta |
Regulacja UV | Ustawienie UV: Filtr odcięcia UV: 400 nm |
Sterowany komputerowo: płynna regulacja, 0,0%~100,0% (1000 kroków) |
Pomiar temperatury próbki | Accuracy (Within operating temperature/humidity range) |
SAV : ±1.2°C |
LMAV, MAV : ±0.8°C |
LAV : ±0.5°C |
Czas pomiaru | SCI lub SCE : ok. 2 s |
SCI lub SCE z pomiarem temperatury próbki : ok. 4.5 s |
SCI+SCE : ok. 5 s |
SCI+SCE z pomiarem temperatury próbki : ok. 5 s |
Transmisja : ok. 2 s |
Minimum interval between measurements | SCI or SCE : ok. 3 s |
SCI or SCE z pomiarem temperatury próbki : ok. 5 s |
SCI+SCE : ok. 6 s |
SCI+SCE z pomiarem temperatury próbki : ok. 6 s |
Transmisja : ok. 3 s |
Komora transmisji | Maksymalna grubość próbki : ok. 50 mm |
Maksymalna długość próbki : |
Nieograniczona (bez boków, gdy pokrywa komory nadawczej jest otwarta) |
Uchwyt na próbki (opcjonalny) do przechowywania próbek arkuszowych lub pojemników z próbkami ciekłymi może być instalowany/demontowany |
Funkcja wizjera kamery | Korzystanie z kamery wewnętrznej. |
* Obraz można przeglądać/kopiować za pomocą opcjonalnego oprogramowania, takiego jak SpectraMagic NX2 |
Wewnętrzna kontrola wydajności*1 | Technologia WAA (analiza i regulacja długości fali) |
Czujnik temperatury otoczenia | Tak |
Interfejs | USB2.0 |
Zasilanie | Dedykowany zasilacz sieciowy |
Rozmiar (szer. × wys. × głęb.) | Około 307 × 271 × 600 mm |
Waga | Około 20 kg |
Zakres temperatury/wilgotności roboczej | Temperatura: 13 do 33°C, |
Wilgotność względna: 80% lub mniej (przy 33°C) bez kondensacji |
Zakres temperatury/wilgotności przechowywania | Temperatura: 0 do 40°C, |
Wilgotność względna: 80% lub mniej (przy 35°C) bez kondensacji. |
Akcesoria standardowe | Biała płytka kalibracyjna; Maski docelowe (SAV, MAV, LMAV, LAV); |
Pudełko do kalibracji zera; Kabel USB (3 m); Zasilacz sieciowy |
Akcesoria opcjonalne | Oprogramowanie SpectraMagic™ NX2 do danych barwnych; Uchwyt próbki transmitancji; Kuwety (szklane; 2 mm, 10 mm, 20 mm); Kuwety plastikowe (2 mm, 10 mm, 20 mm); Płytka do kalibracji zera transmitancji; Płytki barwne; Płytka zielona; Osłona przeciwpyłowa |